成型工业比如数码相机镜头，研磨盘，光学测量的基准面，高分辨成像（电脑屏幕）显微镜，激光反光镜相关部品，红外线及X线光学部品，小数点以后两位以上的RMS精度越来越多的被需求。

 半导体ware，LCD平面显示，随着尺寸的增大，对表面的粗糙度，面形的把握和评价，提出了更高的要求。

 应运而生，干涉法高精度测量，就摆到桌面上了。

  干涉法非接触 一般1/10 λ、RMS。那么，1/100,1/1000 λ　就是相对高精度了。

 我的第一篇文章提到的方法，是可以实现的。

    WyKo NCP-1000M 在15年前就已经实现了商品化，干涉法非接触测量 可以分辨到1埃rms 。

国内能达到这里的寥寥无几。