波前传感器是自适应光学系统最重要的组成部件之一，决定了自适应光学系统最终的调制结果。随着科技的进步，人们对精密光学元器件的生产技术指标要求越来越高，波前传感技术能给精密的光学元器件进行检测，实时得到精确的监测数据，对于精密光学元器件的生产无疑产生了一场新的技术革命。相对于传统的干涉仪检测光学元器件的波前，Optikos SMI表面检测仪（南京光研代理）更适合球面、非球面、环面透镜的高速表面检测。

SMI表面检测仪用波前传感技术进行表面形貌的精确测量。其检测原理是对比实际表面的返回波和理想球面的返回波，用三角函数（泽尼克多项式：用来拟合光学元件表面面形 ）表示表面偏差，由于 Zernike多项式圆域上的正交性具有反变换和描述的图像具有最少的信息冗余度的特点，并且各阶模式与光学设计中的Seidel像差 (如：离焦、像散、 慧差等 )系数相对应，为有选择的处理各种像差和优化系统提供了有效途径，所以在圆瞳孔径上常作为正交基进行波前重构。它测量的结果更为准确，精度更高，表面精度可达0.1um，半径精度小于3um。

泽尼克多项式

检测原理图

大家都知道无论是在生产检测还是质量检测时，对于有标准件的设备，在检测前或定期会对检测设备进行校正，而Optikos SMI表面检测仪非球面和环面部分不用借助参考表面就可以轻松地测出，避免了使用标准件进行校正的麻烦。另外，SMI表面检测仪对非球面和环面部分无需接触光学器件就可以对其进行测量，避免了测试中对光学器件表面的污染的可能性。由于它占据的面积和一台电脑主机相当，可以在任何生产环境中进行操作，只要将待测的物品放到指定的位置，按下按钮后就可以开始测量，具有体积小，操作简单的优点。

使用波前传感技术的表面检测仪，无论是在体积、操作方面，还是在测试速度，精度方面都有很独特的优势，选用此款表面检测仪无疑是明智之举。OPTIKOS公司表示可以根据客户的需求定制系统，并提供检测服务。

波前传感技术的应用不仅如此，波前探测器在激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统的波前像差检测，虹膜定位像差引导，大口径高精度光学元器件检测，平行光管/望远镜系统的检测与装调，红外、近红外探测，激光光束性能、波前像差、M^2、强度的检测，高精密光学元器件表面质量的检测等领域发挥着越来越重要的作用。(QQ是：20600600  微信：photics  电话：13986053979)